TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里
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! I! m# S5 }9 z2 p! h3 P2 v! T作者:Dio-晶
7 x' n$ [. L F# f给韬一点自信
& k4 S2 U: s5 c4 ^黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)* B% a) ?- q4 a6 W
那为啥不做呢? 你想过没有?
7 x. n: z6 @. T为何世人知其路,而罕至其深处?' ]& c* S( V9 P. h- s& z9 o- Y
诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。% g% T9 p: n, }8 L. R' a" f' \8 U; i
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
8 A6 S5 E3 ]8 \( s. P其实这真的是一个岔路口!!!!!
7 D. N9 Z6 A! E( v7 ?讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。8 M- b+ l% F, f% b/ F
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。, O1 n$ } l [ `, a* N
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :)
# z9 D- ?. K1 W1 O0 Y几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。
4 l+ C: ~1 v. b1 ^' V既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。' F7 R! N3 ?) C; w
而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。2 ], T& {* `9 V O/ H; [5 I
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2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
* M4 b0 m2 }% [0 F5 w4 R# r, J你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行$ o- L# U# l# U9 \6 g( t
5 p1 w; o) s, V {( K# `+ k9 B3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充5 G H0 M" ?/ V- ] [5 f
9 w4 e1 |" ?/ Q' n0 e所以,有些事,做一做,感受不一样。
7 f) y1 O* ^/ J6 K事非经过不知难,成如容易却艰辛。* D/ m' b7 K! m- s0 c/ s
事在人为,道在躬行。7 l" k4 Q4 m. s3 P
不妨自信一点 :)8 G3 X2 v, c4 `' D. o1 V8 Z) s5 J# t
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