TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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: H& G& o/ A% P我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后; t/ \! ^: x7 o4 E3 {$ c
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关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里+ T( F: a8 ]2 m/ x
* D5 p) G2 p3 M* G: J, x作者:Dio-晶" D2 s7 x" M! Z, M
给韬一点自信6 Q+ t- w' H# v9 l7 H
黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)8 {4 C5 R7 }0 e" i1 {* H7 e E
那为啥不做呢? 你想过没有? $ e. c. C. z: c" s z
为何世人知其路,而罕至其深处?
0 H- T' l3 i' H7 D6 Y# I诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。
$ h5 m+ G) V l- ^: F4 V* u' Z学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
4 ?! E6 D4 \" l其实这真的是一个岔路口!!!!!2 Q7 f4 N! X, \5 i; s0 g5 A3 F
讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。3 D! u, l- G$ _4 X, n* K
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。! j. V, ^- K; ]* c" ~3 c# E
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :)
9 v7 D5 c. Z6 E3 C+ s p1 n几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。4 j& i: S* y, I" Q: N4 e/ J
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
# p% b6 u/ S( O c而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。2 [6 E# y- V" C2 f7 ?
}3 j" u% z' Y, ]2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
* I% W: z: S. h2 K |8 _( @你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行0 q! x6 N6 l) R3 V0 `9 S' `
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3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充8 e ^7 m% g9 |* V7 }4 s, h
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所以,有些事,做一做,感受不一样。3 U3 t. ^6 p6 q8 ^9 F
事非经过不知难,成如容易却艰辛。# e% _" m8 @1 s
事在人为,道在躬行。
5 E7 J7 w+ j$ g" ~, I S不妨自信一点 :)
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