TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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6 x& a/ _9 b& }/ k+ X" w0 Y9 H4 `我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后! N$ e( x1 q' f! Z _7 G8 g/ ]1 \
' O8 |* u# b) G( V$ n: D- n关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里
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作者:Dio-晶+ s3 D3 U' b+ l0 {, n% H
给韬一点自信) }. F+ o' A, A8 v9 E/ d
黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)5 t7 v1 ^( u" M, G3 |5 k/ ~: |
那为啥不做呢? 你想过没有? " \! R& Y8 b( M& K5 x8 n
为何世人知其路,而罕至其深处?& t$ l% a6 z* ]& x
诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。
% R: ~. C8 {& e" x学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
, p. k" ^! |; k0 o( z2 {6 N其实这真的是一个岔路口!!!!!
y% `3 I/ b3 Q5 b; f讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。 V) Q7 D" k+ T& k9 S7 ~, |" o2 B, Y
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。 Z0 O! h: a* y
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :) 8 T# w) V" N2 Z! a$ |" W0 p
几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。% Q/ J$ L7 x- Z
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
* d9 A9 \1 f$ `* P而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。) v X+ ~7 e- v' ~' @- ^
你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行
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4 r2 _5 e% z- j. |0 Q3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充
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5 o6 G4 J! o6 n7 g所以,有些事,做一做,感受不一样。
; ], C' ~, e, F: a+ [2 H: g事非经过不知难,成如容易却艰辛。
! w3 {; A) f$ n( L- l& M事在人为,道在躬行。6 K0 I" C& x9 B3 s
不妨自信一点 :)( D+ W% h7 V- W- \
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