TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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$ l: ^0 x9 ]" P1 c6 s我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里/ D' T0 t y; X9 K% r8 V0 Y
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作者:Dio-晶
# n2 x. _2 @. f2 Y: l3 C; z- s给韬一点自信
$ _1 D9 y/ N4 z黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)- E4 [8 [5 T+ ^" G- l! l) s; C$ }
那为啥不做呢? 你想过没有?
& X( O6 g5 t4 E; ?为何世人知其路,而罕至其深处?
" e* h) b4 @6 ?5 Z/ g诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。! {: E' {2 ~/ P
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
0 c1 N# U- d U3 n, r" S2 l其实这真的是一个岔路口!!!!!
" Q( S% z+ r' M* B1 F讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。4 G) ?- R d- O: o
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。5 k2 G, _1 q. P6 D; B" ^
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :)
+ w! m4 h, ^1 q( w5 u几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。' {4 U4 _* K+ g7 Z
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。8 Z5 K8 f' q5 S: Q/ n* ?
而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
) q9 L( H! S/ z* k你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行" ~ R) d4 r% Q0 P6 R$ E. L+ h
% k6 \0 D# ^2 V5 X/ f' X* ~/ h Q3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充) Y' u7 H+ k! i
, T! g! V2 f/ ?# T! x4 ?# c2 y所以,有些事,做一做,感受不一样。
) D2 c! C+ P P' Q4 w+ N事非经过不知难,成如容易却艰辛。
( v2 G" E- C3 i9 P# s1 ~' ]& g事在人为,道在躬行。3 w+ t3 n, y& R6 ^, h
不妨自信一点 :)/ b V: L! n1 p8 s! V
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